Giải pháp FreeScan X5 và phần mềm đo lường Verisurf Hoa Kỳ

Vừa qua, song song với việc công bố các cập nhật cho dòng máy FreeScan X, Shining 3D đã giới thiệu một bộ giải pháp đo kiểm kết hợp giữa FreeScan X5 và phần mềm đo kiểm Verisurf của Hoa Kỳ tới người dùng.

Với sự linh hoạt trong cách vận hành cùng với độ chính xác cao lên đến 0.03 mm. Kết hợp cùng với Verisurf, phần mềm đo kiểm chuyên dụng đến từ Hoa Kỳ. FreeScan X5 và Verisurf được hy vọng sẽ là bộ giải pháp toàn diện và tối ưu cho các doanh nghiệp cơ khí chế tạo trong quy trình kiểm tra và đảm bảo chất lượng sản phẩm gia công.

FreeScan X5 linh hoạt và chính xác

Linh hoạt trong việc chọn lựa chế độ quét, khả năng làm việc ở nhiều không gian khác nhau cùng với các cải tiến mới để tăng hiệu suất quét mẫu giúp cho người sử dụng máy có nhiều tùy chọn hơn khi quét mẫu phục vụ cho các mục đích như:

• Quét 3D chi tiết cơ khí

• Quét 3D các mẫu nghệ thuật

• Quét 3D phục vụ cho quá trình kiểm tra chất lượng sản phẩm

Độ phân giải có thể tùy chỉnh từ 0.1 mm – 2 mm cùng với độ chính xác lên đến 0.03 mm là thông số phù hợp cho việc áp dụng FreeScan X5 trong các quy trình kiểm tra chất lượng sản phẩm gia công, thiết kế ngược hoặc số hóa dữ liệu. Tùy theo kích thước và yêu cầu về độ chính xác của sản phẩm, người sử dụng có thể tùy chỉnh 2 thông số này sao cho phù hợp.

Độ phân giải cao của dữ liệu quét sẽ giúp đảm bảo việc thể hiện chính xác, rõ nét các vị trí, bộ phận trên sản phẩm.

Verisurf, phần mềm đo kiểm chuyên dụng đến từ Hoa Kỳ

Verisurf là một trong những phần mềm đo kiểm chuyên dụng khá phổ biến hiện nay. Với nhiều công cụ, tính năng chuyên dùng cho quá trình đo, kiểm tra hay thậm chí là thiết kế mẫu, Verisurf đã được nhiều doanh nghiệp sử dụng trong các phòng quản lý chất lượng và thiết kế sản phẩm.

Trong bộ giải pháp đo lường, dữ liệu quét 3D mẫu từ FreeScan X5 sẽ được nhập vào phần mềm Verisurf để thực hiện quy trình kiểm tra kích thước mẫu.

Verisurf có đầy đủ các công cụ từ cơ bản đến nâng cao của một phần mềm đo kiểm chuyên dụng như:

• Thiết lập gốc tọa độ, tạo các đối tượng hình học tham chiếu cho quá trình đo